Главная
Новости
Строительство
Ремонт
Дизайн и интерьер
Каркасный дом
Несущие конструкции
Металлические конструкции
Прочность дорог
Дорожные материалы
Стальные конструкции
Грунтовые основания
Опорные сооружения





















Яндекс.Метрика

STED-микроскопия

STED-микроскопия (англ. Stimulated Emission Depletion Microscopy — микроскопия на основе подавления спонтанного испускания) — разновидность флюоресцентной микроскопии, достигающая разрешения сверх дифракционного предела путём избирательного тушения флюоресценции. Метод был разработан Штефаном Хеллем в 1994 году и продемонстрирован в 1999 году. Удостоен Нобелевской премии по Химии в 2014 г.

В 1986 г. В. А. Охонин (Институт Биофизики CO АН СССР) запатентовал идею STED-микроскопа. Этот патент был, по-видимому, неизвестен Хеллю и Вихману в 1994.

Принцип метода

При обычной конфокальной люминесцентной микроскопии исследуемое вещество оптически возбуждается, и его флюоресценция регистрируется приёмником. Пространственное разрешение метода ограничено дифракционным пределом порядка

D = λ N A , {displaystyle D={frac {lambda }{NA}},}

где λ {displaystyle lambda } — длина волны, а N A {displaystyle NA} — апертура.

Для его преодоления в STED-микроскопии используется второй лазер с большей длиной волны для стимулирования излучательных переходов в веществе по краям фокусного пятна. При облучении кольцевым лазером происходит принудительное испускание перехода с возбуждённого уровня на некоторый вибрационный уровень. Таким образом, на краях пятна происходит обеднение населённости возбуждённого уровня, и люминесценция на длине волны λ {displaystyle lambda } подавляется, позволяя достичь лучшего разрешения в центральной области.


Имя:*
E-Mail:
Комментарий: