STED-микроскопия




Главная
Новости
Статьи
Ремонт
Каркасный дом
Несущие конструкции
Металлические конструкции
Прочность дорог
Дорожные материалы
Стальные конструкции
Грунтовые основания
Опорные сооружения




26.02.2021


26.02.2021


25.02.2021


25.02.2021


24.02.2021


22.02.2021


22.02.2021


22.02.2021


20.02.2021


20.02.2021





Яндекс.Метрика
         » » STED-микроскопия

STED-микроскопия

18.12.2020

STED-микроскопия (англ. Stimulated Emission Depletion Microscopy — микроскопия на основе подавления спонтанного испускания) — разновидность флюоресцентной микроскопии, достигающая разрешения сверх дифракционного предела путём избирательного тушения флюоресценции. Метод был разработан Штефаном Хеллем в 1994 году и продемонстрирован в 1999 году. Удостоен Нобелевской премии по Химии в 2014 г.

В 1986 г. В. А. Охонин (Институт Биофизики CO АН СССР) запатентовал идею STED-микроскопа. Этот патент был, по-видимому, неизвестен Хеллю и Вихману в 1994.

Принцип метода

При обычной конфокальной люминесцентной микроскопии исследуемое вещество оптически возбуждается, и его флюоресценция регистрируется приёмником. Пространственное разрешение метода ограничено дифракционным пределом порядка

D = λ N A , {displaystyle D={frac {lambda }{NA}},}

где λ {displaystyle lambda } — длина волны, а N A {displaystyle NA} — апертура.

Для его преодоления в STED-микроскопии используется второй лазер с большей длиной волны для стимулирования излучательных переходов в веществе по краям фокусного пятна. При облучении кольцевым лазером происходит принудительное испускание перехода с возбуждённого уровня на некоторый вибрационный уровень. Таким образом, на краях пятна происходит обеднение населённости возбуждённого уровня, и люминесценция на длине волны λ {displaystyle lambda } подавляется, позволяя достичь лучшего разрешения в центральной области.